關(guān)于氣壓上升的解釋

基礎(chǔ)理論：克拉珀龍方程

PV=nRT

其中 R= 8314pa.L/mol.K

可推 P=nRT/V

簡(jiǎn)化有 P = k*T （k=nR/V） 即

P∝T

以下的討論均基于“將氣體注入完全密閉的腔體或樣品中”的條件進(jìn)行討論。 對(duì)于泄漏樣品，樣品在測(cè)試階段的自身泄漏導(dǎo)致的壓損遠(yuǎn)大于氣壓的上升。

在充氣階段，將氣體通過(guò)設(shè)備注入腔體或樣品的過(guò)程中，氣源帶動(dòng)氣體對(duì)容器壁做功，導(dǎo)致氣體的溫度上升。

溫度上升導(dǎo)致兩個(gè)現(xiàn)象：

因?yàn)镻∝T，溫度上升導(dǎo)致腔體或樣品內(nèi)的氣壓增大，記其導(dǎo)致氣壓上升的影響為P1。溫度上升導(dǎo)致氣體分子的布朗運(yùn)動(dòng)更為劇烈。密封性測(cè)試儀

氣體百壓強(qiáng)產(chǎn)生的原因是由于氣體分子不斷對(duì)容器的器壁碰撞而產(chǎn)生的，而不是由于氣體的重力產(chǎn)生的。所以激烈的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致氣體分子對(duì)容器壁的壓強(qiáng)增大，壓力上升。記其導(dǎo)致氣壓上升的影響為P2。

在P1和P2的共同影響下，就導(dǎo)致了充氣結(jié)束后，氣壓會(huì)有一定幅度的持續(xù)上升。可記錄為

ΔP=f(P1,P2);

有了以上理論基礎(chǔ)，易得，對(duì)于一個(gè)完全密閉的腔體或樣品進(jìn)行注氣氣密實(shí)驗(yàn)的時(shí)候，在保持階段和測(cè)試階段（或保持階段和測(cè)試階段中的一段時(shí)間）氣體壓力會(huì)有一定幅度的持續(xù)上升，持續(xù)到拐點(diǎn)后才會(huì)維持氣壓不變會(huì)輕微下降。

氣密性測(cè)試儀壓損模式的基本原理是監(jiān)控樣品內(nèi)的氣體在測(cè)試階段的壓力下降值來(lái)判斷樣品是否泄漏。即泄漏值 γ = α - β。當(dāng)β>α 時(shí)，泄漏值γ為負(fù)數(shù)。泄漏測(cè)試設(shè)備

綜上，對(duì)于一個(gè)完全不漏的樣品，因?yàn)槌錃怆A段的氣體做功和更加劇烈的布朗運(yùn)動(dòng)，泄漏值會(huì)為負(fù)數(shù)，為正?，F(xiàn)象。

FAQ

我不想見(jiàn)到負(fù)數(shù)，怎么辦？

>>可以等待氣體穩(wěn)定再進(jìn)行測(cè)試：通過(guò)增加保持時(shí)間，等氣體完全穩(wěn)定再進(jìn)入測(cè)試階段。但是不推薦，原因如下：

//根據(jù)測(cè)試壓力、流量、樣品體積大小、樣品的泄漏率等的不同，氣體的穩(wěn)定時(shí)間均不 同，從幾秒到幾分鐘不等。為保證測(cè)試穩(wěn)定，只能取各類樣品穩(wěn)定時(shí)間最大值，這會(huì)降低產(chǎn)能。 如果保持時(shí)間過(guò)長(zhǎng)或樣品漏率大，很可能出現(xiàn)氣體還沒(méi)穩(wěn)定就已經(jīng)泄漏光了的情況，會(huì)造成誤判。氣密檢測(cè)設(shè)備

這會(huì)影響到測(cè)試，造成誤判么？

>>僅氣密性很好的樣品會(huì)因?yàn)榇诵孤┲底優(yōu)樨?fù)數(shù)，對(duì)于泄露樣品，ΔP帶來(lái)的增益遠(yuǎn)小于泄漏量，絲毫不影響測(cè)試。